電子產品、元器件高加速壽命試驗HALT，壽命耐久性測試

高加速老化試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示設計缺陷和不足的過程。老化試驗的目的是在產品開發的早期階段識別出產品的功能和破壞極限，從而優化產品的可靠性。

高加速老化試驗是一種利用階梯應力加諸于試品，并在早期發現產品缺陷、操作設計邊際及結構強度極限的方法。試品通過HALT所暴露的缺陷，涉及線路設計、工藝、元部件和結構等方面。HALT的主要目的是在產品設計和試產階段，通過試驗，快速發現產品的潛在缺陷，并加以改進和驗證，從而增加產品的極限值，提高其堅固性及可靠性。施加于試品的應力，包括振動、高低溫、溫度循環、電力開關循環、電壓邊際及頻率邊際測試等。

在產品研制階段，為得出產品設計裕度和極限承載能力(破壞或損傷極限)而設計的一種試驗，它應用步進的方法給產品施加環境應力并檢測其性能，直到產品失效為止。為提高試驗效率，所施應力并非工作環境的模擬而是加速應力，通常為高變溫率(至少應大于25°C/min)的溫度循環和多軸隨機振動，還包括有通電循環、電壓偏低、頻率偏差等電應力。高加速壽命試驗得到的應力極限值可以作為確定高加速環境應力篩選的應力量值的依據。

高加速老化試驗：以連續的測試、失效分析、缺陷改進及驗證構成了整個程序，可能是個閉環循環過程。往往一個測試計劃，需要重復進行幾次，除非一次性能經受加速應力試驗。其關鍵在于分析失效的根本原因。

高加速老化試驗的主要功能如下：

1．利用高環境應力將產品設計缺陷激發出來，并加以改善；

2. 了解產品的設計能力及失效模式；

3. 作為高應力篩選及制定品質核查規格的參考；

4. 快速找出產品制造過程的瑕疵；

5. 增加產品的可靠性，減少維修成本；

6. 建立產品設計能力數據庫，為研發提供依據并縮短設計制造周期。