HAST高壓蒸煮 第三方檢測機構

HAST高壓蒸煮檢測

HAST(Highly Accelerated Stress Test)高壓蒸煮是一項測試微電子器件的可靠性的方法之一，通過模擬極端工作環境下的水分、溫度、氣壓等因素，對器件的耐受程度進行評估，從而提高產品的可靠性。

測試項目

HAST測試主要關注器件的結構、材料、制作工藝和生產流程方面，其測試項目包括：

密封性測試；    濕熱環境下電絕緣強度以及擊穿電壓試驗；    鹽霧腐蝕測試；    表面紋理變化觀察等。 測試條件

HAST測試的環境條件主要包括：溫度140℃、相對濕度95%、氣壓3.5atm，測試時長24-96小時（視不同測試項目而定）。

國內外測試標準

國際上對于HAST測試的標準主要有JEDEC JESD22-A110和MIL-STD-750C，國內的標準主要有GB/T2423.12-2013和GJB657A-2009等。

樣品要求

測試樣品一般為器件的部分組件或完整板卡，需符合相關的生產標準和規范。測試樣品需采用差異性較大的相關材質進行對比測試。

測試流程

測試流程如下：

設定測試溫度、相對濕度、測試時間；    將測試樣品放入高壓蒸煮測試設備內，并進行密封；    測試結束后，取出測試樣品，進行各項測試指標的測量和檢驗；    *終生成測試報告。 測試報告

測試報告將列明每個測試項目所使用的測試設備和測試方法，測試結果以及如果發現問題，則會詳細解釋所發現的問題，并給出相應的建議。

如何申請測試

針對需要進行HAST測試的客戶，需要在專業的第三方檢測機構（如、UL等）進行申請。在申請測試前，客戶需要向檢測機構提供樣品信息及相關資料，以方便檢測機構預估測試費用并計劃測試流程。

HAST測試可以幫助客戶在產品研發和生產過程中提前發現問題并加以解決，在保證產品質量的也節約了客戶的時間和成本。